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熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)Namicro-3

Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)試，同時(shí)測(cè)試塊體熱電材料的Seebeck系數(shù)以及電阻率。

現(xiàn)在申請(qǐng)

Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)試，同時(shí)測(cè)試塊體熱電材料的Seebeck系數(shù)以及電阻率。

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3可以進(jìn)行Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)試，同時(shí)測(cè)試薄膜熱電材料的Seeb···

現(xiàn)在申請(qǐng)

薄膜熱電參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)MRS-3可以進(jìn)行Seebeck系數(shù)和電阻率測(cè)試，同時(shí)測(cè)試薄膜熱電材料的Seeb···

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT-3

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT-3進(jìn)行熱導(dǎo)率測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)試薄膜、塊體材料的熱導(dǎo)率隨溫度的變化。

現(xiàn)在申請(qǐng)

薄膜熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)TCT-3進(jìn)行熱導(dǎo)率測(cè)試，實(shí)時(shí)測(cè)試薄膜、塊體材料的熱導(dǎo)率隨溫度的變化。

測(cè)試項(xiàng)目