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雙束聚焦離子顯微鏡 （FIB-SEM）
- 分類： 測(cè)試項(xiàng)目
- 作者：超級(jí)管理員
- 來(lái)源：本站
- 發(fā)布時(shí)間：2022-12-14
- 訪問(wèn)量： 697
【概要描述】TOF-SIMS系統(tǒng)、原位加熱拉伸臺(tái)、原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、全元素以及同位素分析，可制樣
雙束聚焦離子顯微鏡 （FIB-SEM）
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