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納米級薄膜材料物性分析儀入駐中國計量院

分類：科研院所
作者：嘉儀通科技
來源：本站
發(fā)布時間：2021-07-09
訪問量： 962

【概要描述】中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）成立于1955年，屬社會公益型科研單位。武漢嘉儀通科技的···

納米級薄膜材料物性分析儀入駐中國計量院

【概要描述】中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）成立于1955年，屬社會公益型科研單位。武漢嘉儀通科技的···

分類：科研院所
作者：嘉儀通科技
來源：本站
發(fā)布時間：2021-07-09
訪問量： 962

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中國計量科學(xué)研究院（以下簡稱“中國計量院”）成立于1955年，屬社會公益型科研單位。

武漢嘉儀通科技的光功率熱分析儀是納米級薄膜材料物性分析儀，填補了納米級薄膜材料無損檢測其相變溫度和熱膨脹系數(shù)的市場！不僅可用于檢測塊體，還可檢測低至1nm的薄膜材料。根據(jù)材料相變前后光學(xué)性質(zhì)（反射光功率）有較大差異的特性檢測材料的相變溫度，依據(jù)光干涉原理檢測透光材料的熱膨脹系數(shù)，融合了相變溫度分析儀和熱膨脹系數(shù)分析儀的兩項功能。