

薄膜熱電參數(shù)測試系統(tǒng)(MRS-3RT)
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產(chǎn)品特點
● 專門針對薄膜材料的Seebeck系數(shù)和電阻率測量。
● 測試環(huán)境溫度范圍達到81K~700K。
● 采用動態(tài)法測 量Seebeck系數(shù),避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統(tǒng)誤差,測量更準確。
● 采用四線法測量電阻率。
● 卡箍設(shè)計,方便進行樣品更換,提高效率。
● 軟件操作簡單,智能化可實現(xiàn)全自動模式。
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